TAYLOR小型粗糙度儀Surtronic S116出廠原裝

• 更新時間：2017-03-01
• 瀏覽次數：1170

TAYLOR小型粗糙度儀Surtronic S116出廠原裝
TAYLOR小型粗糙度儀Surtronic S-116屬于Surtronic S100 系列產品，集良好的精密技術和低價值于一體，儀器應用廣泛，測量靈活高效，可用于測量多種工件，其中包括無法接近或不易移動的工件。還可以在任何表面， 任何高度進行測量，配備的4.3寸大尺寸觸屏，容量大，顯示信息一目了然，方便閱讀和操作。

訂購留言

分享到：

TAYLOR小型粗糙度儀Surtronic S116出廠原裝

TAYLOR小型粗糙度儀Surtronic S-116屬于Surtronic S100 系列產品，集良好的精密技術和低價值于一體，儀器應用廣泛，測量靈活高效，可用于測量多種工件，其中包括無法接近或不易移動的工件。還可以在任何表面， 任何高度進行測量，配備的4.3寸大尺寸觸屏，容量大，顯示信息一目了然，方便閱讀和操作。可在車間、檢測室或實驗室內對表面粗糙度進行有效的測量。

持久性：多樣化的系統和應用相關的配件，滿足您的特殊需求，大容量鋰聚合物電池， 一次充電后可進行至少2000次測量，充滿電后待機能力長達5000個小時。

堅固耐用：耐沖擊性橡膠化塑性整個機身， 聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性，抗磨損的齒輪和軸承堅固的不銹鋼驅動機構。 

測量范圍：200 um 100 um 10 um 
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 
重復精度 (Ra) ：1%測試值+底噪
傳感器原：電感
測量力：150-300mg
測針針尖半徑：標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試參數：
三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器：2CR、Gaussian
評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
zui大行程：17.5mm
執行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區的合作伙伴，憑借種類齊全的產品資源和服務，涵蓋光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設備，努力為客戶解決日新月異的測量分析技術挑戰，共同提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案，有效推動企業實現既定目標。